ОСТРОЖИНСКИЙ, В.; ГОРБАЧУК, Н. СПЕКТРАЛЬНИЙ АНАЛІЗ І ЙОГО ЗАСТОСУВАННЯ В СУЧАСНИХ ТЕХНОЛОГІЯХ МІКРОЕЛЕКТРОНІКИ. Sworld-Us Conference proceedings, [S. l.], v. 1, n. usc11-01, p. 8–11, 2022. DOI: 10.30888/2709-2267.2022-11-01-024. Disponível em: https://www.proconference.org/index.php/usc/article/view/usc11-01-024. Acesso em: 20 трав. 2024.